Главная  /  Каталог продукции  /  Прессовое и испытательное оборудование  /  Система температурных испытаний ТС-3
Система температурных испытаний ТС-3

 

СТИ ТС-3. Система температурных испытаний ТС-3 предназначена для испытаний образцов из различных материалов при повышенных и пониженных температурах на универсальных электромеханических испытательных машинах серии УТС.

Описание: Микропроцессорная система управления СТИ ТС-3 позволяет автоматизировать процесс проведения испытаний, передачу на компьютер со специальным программным обеспечением всей полученной информации.

СТИ ТС-3 обеспечивает:

  • выбор режимов испытания в диалоговом режиме;
  • управление процессом испытания по выбранному режиму;
  • сброс информации на носитель (флеш-память).

Специальное программное обеспечение позволяет вести:

  • сбор и отображение контролируемых параметров на экране персонального компьютера;
  • архивирование контролируемых параметров в виде отчетов;
  • печать архивированных и текущих значений параметров в виде графиков или таблиц;
  • программа позволяет создавать программно-аппаратную систему сбора данных и управления испытательным комплексом СТИ ТС-3.

 

Параметр Значение
1. Диапазон рабочих температур, °C:от - 120 до + 300
2. Пределы допускаемого значения погрешности регулирования установившейся температуры среды в рабочем объеме температурной камеры в интервале температур, °C: 
при температуре от - 120 °C до 0 °C:±2 °C
при температуре от + 50 °C до + 100 °C:±1 °C
при температуре от + 100 °C до + 300 °C:±2 °C
3. Время достижения установившейся температуры, не более, мин.: 
от + 20 °C до - 120 °C60
от + 50 °C до +300 °C90
4. Потребляемая электрическая мощность, не более,кВт.: 
при разогреве до + 300 °C3,5
при поддержании температуры + 300 °C1,5
5. Габаритные размеры, мм.: 
температурная камера:480x380x800
микропроцессорный блок управления:600x480x250
блок криосистемы:460x460x960
6. Масса, не более, кг.: 
температурная камера:90
микропроцессорный блок управления:30
блок криосистемы:15

Другие товары группы
« Прессовое и испытательное оборудование »